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文件名稱: | Dualscope_MP0涂鍍層測(cè)厚儀中文操作說(shuō)明書(shū) |
公司名稱: | 北京時(shí)代山峰科技有限公司 |
下載次數(shù): | 1789 |
文件詳細(xì)說(shuō)明: | |
Dualscope_MP0涂鍍層測(cè)厚儀中文操作說(shuō)明書(shū) MPO涂層測(cè)厚儀為德國(guó)生產(chǎn)涂層測(cè)厚儀,MPO涂層測(cè)厚儀集合了磁性測(cè)厚儀(P-MP0D)和渦流測(cè)厚儀(I-MP0D)兩種儀器的功能,MPO涂層測(cè)厚儀是D-MP0D,MPOR型儀器的改進(jìn)型產(chǎn)品。可用于測(cè)量鐵基及非鐵基體上涂層的厚度。如: 1. 鋼鐵材料上的銅、鉻、鋅等電鍍層或油漆、涂料、搪瓷等涂層厚度。 2. 鋁、銅、金等箔、帶材料及紙張、塑料膜的厚度。 3. 銅、鋁、鎂、鋅等非鐵金屬材料上的涂層厚度。 4. 鋁、鎂材料上陽(yáng)極氧化膜的厚度。 5. 各種鋼鐵及非鐵金屬材料上熱噴涂層的厚度。 德國(guó)MPO涂層測(cè)厚儀符合標(biāo)準(zhǔn)GB/T4956和GB/T4957,可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)及質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。 MPO/MP0特點(diǎn): |
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